引言

　　作為新一代照明光源，LED具有節(jié)能、環(huán)保、壽命長、體積小、響應快等特點，是近年來全球最具發(fā)展前景的高新技術領域之一[1]。全球范圍內(nèi)環(huán)境保護力度的持續(xù)加強以及產(chǎn)品性能的不斷提高，使得LED獲得了巨大的市場空間[2。“目前工業(yè)上用LED實現(xiàn)白光有多種方式：藍光芯片上涂敷黃色熒光粉;藍光芯片上涂覆綠色和紅色熒光粉;紫外光芯片上涂敷三基色或多種顏色的熒光粉;多芯片合成白光等等。其中使用最廣泛的是第一種制法，即用高效的In—GaN/GaN基藍光LED芯片激發(fā)YAG：Ces+熒光粉，由藍光和黃光混合形成白光[5]。這種方式對比于其他制法來說，發(fā)光效率較高，但因為在青色和紅色方面光譜不足，導致顯色性較差，且難以滿足低色溫照明的要求。

　　即便如此，藍光芯片涂敷YAG熒光粉制成的白光LED仍可以勝任一般顯色性照明的需要，且可以通過添加橙色或紅色熒光粉來增加紅光比率，提高色溫和顯色指數(shù)。所以，為了推進LED在照明領域的全面普及，研究藍黃光混合的白光LED的老化性能，提高其在應用階段的可靠性，成為業(yè)界非常重要的課題[6’7]。本工作用GaN基功率型藍光芯片涂敷YAG熒光粉制成白光LED，對其施加900 mA的老化電流，在老化過程中測試樣品的主要光學參數(shù)及電流一電壓關系曲線，推斷芯片和熒光粉的退化情況，分析了光學參數(shù)變化的起因。

　　1實驗部分

　　用Cree公司生產(chǎn)的GaN基功率型藍光芯片，涂敷YAG熒光粉和透明硅膠封裝成額定功率為1 w的白光LED。將制成的樣品固定在可施加電流應力的老化臺上，設定工作電流值為900 mA。LED樣品的金屬管殼緊貼在老化臺鋁制散熱板的導熱膜上，以保證良好的熱接觸。用浙大三色的LED光學參數(shù)測試系統(tǒng)測量樣品的光學參數(shù)，每次測量均回到LED的額定工作電流350 mA下進行，測試平臺的溫度設定為25℃。電學測試設備為Agilent 4155，主要測量樣品的Fy特性。

　　圖l為LED樣品涂敷YAG熒光粉和透明硅膠前后測得的光譜分布情況。使用芯片的峰值波長為445～448咖，涂敷YAG熒光粉以后，大量藍光經(jīng)過熒光粉吸收轉(zhuǎn)換成黃光，黃光輻射量占整個光輸出的84%左右。使用灌封硅膠以后，由于其聚光作用，測得的輻射通量由236 mW提高到293mW。通過在老化過程中階段性地測試完好封的自光LED樣品的光學參數(shù)以考察其退化情況。