四. 芯片測試

　?、?驅(qū)動IC耐壓需求

　　屏幕驅(qū)動芯片耐壓是很重要的，一般屏幕雖說供電只有5V，可是顯示內(nèi)容變化劇烈，因此而產(chǎn)生的電壓峰峰值(Vp-p)遠(yuǎn)比我們想象的要高。開關(guān)電源本身就有峰值電壓，與選擇電源有很大的關(guān)系，但是客戶允許的售價限制我們的電源選擇水平，這里告訴大家開關(guān)電源是其中因數(shù)之一。對減小紋波，屏幕PCB布線也非常關(guān)鍵，這是個很赫手的問題，需要有專門的PCB 工程師。屏幕電源分布供電情況，也是重要的因數(shù)。

　　受上述因數(shù)影響，電壓峰峰值(Vp-p)計算是復(fù)雜的，從應(yīng)用角度實(shí)測，靜態(tài)屏幕通常大約在7-9V之間。掃描屏幕大概在10-13V之間，掃描屏幕電壓峰峰值升高和掃描屏幕開關(guān)速度提高有密切關(guān)系，傳輸速率提升，提高LED開關(guān)速度，同時也提升電壓波動變化率，電壓峰峰值也會提高。

　　前面講過最開始是采用74HC595設(shè)計屏幕，后來發(fā)現(xiàn)耐壓只有9V(5V低壓工藝)設(shè)計的74HC595會因此損壞，分析認(rèn)為是電壓峰峰值所致，在屏幕的發(fā)展過程中不斷的提高輸出端口的耐壓，徹底的解決了這個問題。這些年有部門公司設(shè)計16通道IC，采用了耐壓9V的設(shè)計，在部分屏幕使用沒有問題(多是靜態(tài)屏幕)，可是有些公司的LED屏幕上使用損壞率很高(大多是掃描屏幕或PCB設(shè)計差異)，問題源于此。

　　近年來部分公司設(shè)計出網(wǎng)格裝的屏幕，這種長距離細(xì)線徑供電方式，電壓峰峰值(Vp-p)尤為突出，部分波峰電壓高達(dá)15V以上，致使多款屏幕驅(qū)動芯片在網(wǎng)格屏幕上，顯露出耐壓不足情況。16通道恒流驅(qū)動器還會用到屏幕以外的LED裝飾領(lǐng)域，比如護(hù)欄管等，設(shè)計供電電壓在12V以上，這些設(shè)計電壓峰峰值(Vp-p)也會高達(dá)15V左右，甚至更高。因此驅(qū)動芯片輸出端口耐壓是非常重要的參數(shù)。

　　㈡ 耐壓能力測試

　　既然是重要的參數(shù)，那就給出簡易可行的測試方式。隨機(jī)抽取CYT62726共3pcs芯片，測試芯片其中一個端口，芯片給予正常供電，是關(guān)閉狀態(tài)。CYT62726規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)是耐壓17V，17V是一定能給予客戶保證的耐壓。

　　測試按照一定的步驟，從5V供電不斷的提高到17V，漏電在6nA以內(nèi)，對端口串接的LED做直觀判斷，LED看不到亮度。繼續(xù)增加電壓到24V，IC仍然可以承受，隨著電壓增加端口漏電也隨之增加，超過0.5uA時LED有機(jī)會看到亮度，25V以上IC會損壞。

　　結(jié)果：經(jīng)測試端口加載17V電壓都在10nA以內(nèi)，結(jié)果是滿意的。可觀察到LED亮度點(diǎn)亮電流在1uA，小于0.5uA電流可視為沒有漏電。紅色數(shù)據(jù)表示到了芯片的極限，工作已經(jīng)不能正常。

　?、?IC可靠性測試

　　驅(qū)動芯片可靠性測試是復(fù)雜的，也是很重要的，它不僅要對芯片設(shè)計做出分析，還要對封裝載體的可靠度評估，對屏幕驅(qū)動芯片，屬于功率器件發(fā)熱量很大，可靠性測試至關(guān)重要。

　　下面是一般性測試結(jié)果，主要是對封裝的可靠性做出評估。