中國國際半導體照明論壇(SSLCHINA)是中國地區(qū)最具國際影響力的半導體照明及智能照明行業(yè)年度盛會，也是業(yè)界最為關(guān)注的論壇之一。第十二屆中國國際半導體照明論壇(SSLCHINA 2015)將于2015年11月2-4日在深圳會展中心舉辦，論壇緊扣時代發(fā)展脈搏與產(chǎn)業(yè)發(fā)展趨勢，以“互聯(lián)時代的LED+”為大會主題，探討產(chǎn)業(yè)發(fā)展大勢。

　　科技部副部長曹健林、國際照明協(xié)會主席Yoshi Ohno將分別擔任本次大會的中、外方主席。目前開閉幕大會、技術(shù)分會等特邀嘉賓正在全球征集中。

　　據(jù)組委會最新消息，RTI International工程研究總監(jiān)J. Lynn Davis博士將出席本屆論壇，并在P203“可靠性與熱管理”技術(shù)分會上發(fā)表“SSL器件加速應力測試案例研究”的精彩報告。

　　J. Lynn Davis博士表示，SSL器件是由發(fā)光二極管(LED)、光學元件、反光片、電子驅(qū)動及連接器等多個元件構(gòu)成的復雜系統(tǒng)。為此類器件設(shè)計加速壓力測試(AST)是試圖在大幅度縮減時間框架下為照明系統(tǒng)元件創(chuàng)建現(xiàn)實失效模式的復雜項目。溫度、濕度及電應力等一些環(huán)境壓力因素會加速老化和降解過程。然而，每項壓力因素對系統(tǒng)元件所產(chǎn)生的影響都不同，應對此加以了解并得出產(chǎn)品的可靠性和壽命信息。通過對環(huán)境壓力條件和SSL器件進行綜合研究，能夠更深入理解SSL系統(tǒng)加速測試的優(yōu)點與局限。

　　Davis博士在報告中將討論SSL系統(tǒng)AST實驗方法與結(jié)果，包括失效模式識別及與現(xiàn)實經(jīng)驗的關(guān)聯(lián)。他將介紹SSL器件強加速應力測試(HAST)的結(jié)果以及該方法中潛在失效模式的啟示和局限。

　　Davis博士還將介紹其他AST方法，例如高溫運行壽命法(HTOL)及濕高溫運行壽命法(WHTOL)等。有關(guān)上述測試方法對系統(tǒng)元件的影響，將重點關(guān)注LED、透鏡及電子驅(qū)動等。

　　為突出AST的優(yōu)勢，Davis博士將等同的暖白光和冷白光產(chǎn)品進行對比，其中還包括檢驗LED封裝方式(即，中功率與高功率LED)以及其他LED屬性所產(chǎn)生的影響，如相關(guān)色溫(CCT)對流明維持率和色點穩(wěn)定性的影響。

　　J. Lynn Davis是RTI International的工程研究總監(jiān)。他所帶領(lǐng)的團隊的研究領(lǐng)域主要涉及照明及空氣過濾等方面的節(jié)能建筑產(chǎn)品，客戶包括美國能源部、美國環(huán)境保護署及各類商業(yè)客戶。Davis博士的團隊曾榮獲多個重要獎項，包括《研發(fā)雜志》的“R&D 100”獎、能源研究所的創(chuàng)新獎、美國能源部的研發(fā)成果獎等。

　　Davis博士是電氣與電子工程師學會(IEEE)的資深會員，并曾因在納米技術(shù)標準制定方面所做的工作而獲得國際電工技術(shù)委員會(IEC)的“1906獎”。他曾發(fā)表50多篇技術(shù)論文，并獲得45項左右的美國專利授權(quán)，涵蓋節(jié)能與材料技術(shù)的多個方面。