·引言

　　LED 技術(shù)雖然已經(jīng)有 40 多年的發(fā)展歷史,在產(chǎn)業(yè)界依然存在 LED 光學參數(shù)測試再現(xiàn)性差,測量不確定度大,不同測試裝置之間的測試結(jié)果一致性差等現(xiàn)象[1～3 ] 。究其原因,如同國內(nèi)對 LED 產(chǎn)業(yè)存在多頭管理,國際上也一樣: 國際半導體設(shè)備與材料組織(SEMI) ,國際電工委員會( IEC) 和國際照明委員會(CIE) 都程度不同地涉及到 LED ,尤其是后兩個委員會。正是由于 LED 的相關(guān)測量標準是由國際上不同的標準化組織制定的,而且各個國際組織總體上沒有系統(tǒng)的規(guī)劃,相關(guān)組織間也沒有充分協(xié)商,因而存在不同的質(zhì)量評價體系,所頒文件的技術(shù)內(nèi)容也不盡相同。 IEC 成立于1906年,它把 LED 作為一個顯示用半導體器件處理,側(cè)重于它的物理特性。CIE 成立于 1913 年,它更多地把 LED 作為一個光源器件處理,所以導致各自的 LED測量標準之間存在微小的差異。本文試圖通過比較各自的標準,找出兩者的不同之處,以便為 LED 測試方法標準的最終定稿提供一些參考。

…………