·引言

　　LED 技術雖然已經有 40 多年的發(fā)展歷史,在產業(yè)界依然存在 LED 光學參數測試再現(xiàn)性差,測量不確定度大,不同測試裝置之間的測試結果一致性差等現(xiàn)象[1～3 ] 。究其原因,如同國內對 LED 產業(yè)存在多頭管理,國際上也一樣: 國際半導體設備與材料組織(SEMI) ,國際電工委員會( IEC) 和國際照明委員會(CIE) 都程度不同地涉及到 LED ,尤其是后兩個委員會。正是由于 LED 的相關測量標準是由國際上不同的標準化組織制定的,而且各個國際組織總體上沒有系統(tǒng)的規(guī)劃,相關組織間也沒有充分協(xié)商,因而存在不同的質量評價體系,所頒文件的技術內容也不盡相同。 IEC 成立于1906年,它把 LED 作為一個顯示用半導體器件處理,側重于它的物理特性。CIE 成立于 1913 年,它更多地把 LED 作為一個光源器件處理,所以導致各自的 LED測量標準之間存在微小的差異。本文試圖通過比較各自的標準,找出兩者的不同之處,以便為 LED 測試方法標準的最終定稿提供一些參考。

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