SMD與COB大比拼:哪一款更適合你
摘要: 隨著封裝技術(shù)逐漸成熟,封裝領(lǐng)域的技術(shù)個(gè)性步伐也逐步放緩,封裝技術(shù)的核心也逐漸由技術(shù)的突破轉(zhuǎn)移到封裝產(chǎn)品性能的穩(wěn)定與可靠上來。就目前市場應(yīng)用而言,EMC封裝因成本問題還無法大規(guī)模普及,CSP以及CSC都尚處于概念宣傳推廣階段,市場上的產(chǎn)品仍是SMD和COB的天下。
2.2 光參數(shù)的溫度變化特性
港科大佛山中心在近場測角光度儀 SIG400 的測試基座上自主搭建了一個(gè)控溫平臺(tái),再結(jié)合 SIG400 配備的光譜儀可對(duì)任意光源模組(發(fā)光面直徑小于 4cm)進(jìn)行不同溫度下的發(fā)光強(qiáng)度及顏色信息進(jìn)行測試。利用此方法,可分析 COB 發(fā)光強(qiáng)度、相關(guān)色溫等光參數(shù)的溫度變化特性,其結(jié)果如圖 8 及圖 9 所示。
圖 8 4 款 COB 發(fā)光強(qiáng)度的溫度變化特性
圖 9 4 款 COB 相關(guān)色溫的溫度變化特性
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