溫度測試

　　LED結(jié)溫直接影響其光衰和壽命，也是大家最為關(guān)心的一個問題。尤其是線性方案，此前不被看好，最重要的原因是擔(dān)心這種方案散熱滿足不了使用要求，會加劇LED的光衰和壽命。因此，此次測試，溫度也是我們最為關(guān)注的點(diǎn)之一。

　　因條件所限，我們無法采用電壓測試法直接進(jìn)行結(jié)溫測試，只能對LED各個部位的溫度進(jìn)行布點(diǎn)測試，考察其整體的工作環(huán)境溫度，作為一個側(cè)面參考。

　　此次樣品溫度測試，采用了標(biāo)稱電壓的最低電壓、最高電壓，以及市電三種電壓進(jìn)行測試。先來看一下測試布點(diǎn)圖。此次溫度測試，采用了熱電偶布點(diǎn)的測試方法。

　　以上兩張圖片由佛山沃特測試技術(shù)服務(wù)有限公司提供。

　　再來看一下各個測試點(diǎn)的實(shí)測溫度。

　　以上數(shù)據(jù)由佛山沃特測試技術(shù)服務(wù)有限公司提供。

　　兩年前，業(yè)內(nèi)人士普遍認(rèn)為線性方案只能在小功率范圍內(nèi)應(yīng)用，大功率產(chǎn)品采用線性方案，散熱問題無法解決。然而在降低成本這一力量的驅(qū)使下，這一難題已經(jīng)被攻克。從此次樣品測試數(shù)據(jù)來推測，大功率線性模組的散熱能力已和常規(guī)產(chǎn)品保持在同等水平上，溫度較高的測試點(diǎn)，只有LED 1和LED 2兩個測試點(diǎn)。

　　關(guān)于這兩個測試點(diǎn)的溫度，一直以來存在一些爭議。一種比較常見的觀點(diǎn)是，芯片的溫度是最高的。然而，越來越多的實(shí)際測試案例表明，芯片膠體的溫度，明顯高于芯片內(nèi)部溫度。因?yàn)樾酒ㄟ^基板鏈接到了散熱器，能夠及時把熱量散發(fā)出去，而芯片熱傳導(dǎo)傳至膠體的熱量，因?yàn)槟z體本身是熱的不良導(dǎo)體，反而遲遲無法散發(fā)出去，這導(dǎo)致膠體溫度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于其他測試點(diǎn)的溫度。阿拉丁評測室就這一問題曾咨詢過一些專業(yè)的工程師，發(fā)現(xiàn)參與到談?wù)摰墓こ處?，大部分都已接受并認(rèn)可這一觀點(diǎn)——膠體溫度高于其他測試點(diǎn)溫度。我們也希望會有更多的工程師加入討論，并提供更多的實(shí)際測試案例，以佐證這一觀點(diǎn)的真確性。

　　結(jié)語

　　從產(chǎn)品的測試數(shù)據(jù)來看，不管是光學(xué)性能、電氣性能還是散熱性能，都能夠滿足標(biāo)準(zhǔn)要求，各方面性能已和傳統(tǒng)的LED路燈到了同一水平。阿拉丁評測室認(rèn)為，一款產(chǎn)品在滿足使用要求并保證使用安全的同時，能夠減少生產(chǎn)成本，降低產(chǎn)品價格，這就不失為一款好產(chǎn)品。

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