1.高溫：

將薄膜鍵盤放置在恒溫恒濕試驗箱中，試驗箱溫度調節(jié)為55℃±2℃，持續(xù)保溫時間72 h，試驗過程中不通電，不做功能試驗。試驗后在一般大氣條件下恢復2 h，進行檢測，外觀質量、絕緣電阻、耐壓值的結果應符合要求。

2.低溫：

將薄膜鍵盤放置在恒溫恒濕試驗箱中﹐試驗箱溫度為-40℃±3℃，持續(xù)保溫時間72 h，試驗過程中不通電，不做功能試驗。試驗后在一般大氣條件下恢復2 h，進行檢測﹐回線電阻和按鍵力的結果應符合要求。

3.恒定濕熱：

將薄膜鍵盤放置在試驗箱中，試驗條件為溫度：40℃±2℃，相對濕度：93%±3% ，時間持續(xù)4 d ，樣品不包裝，試驗過程中不通電。試驗后在一般大氣條件下恢復2 h，進行檢測，外觀質量、回線電阻、絕緣電阻和耐壓值的結果應符合要求。

以上就是薄膜鍵盤在恒溫恒濕試驗箱中的試驗項目，除此之外，還需要做快速溫度變化試驗，快速溫度變化試驗需要用到快速溫度變化試驗箱（型號：HYQT-80），其測試方法如下：

溫度變化：

將薄膜鍵盤放置在試驗箱中，樣品處于不包裝，不通電的準備使用狀態(tài)進行試驗，經受-40℃~+55℃，轉換時間不大于3 min，高、低溫的暴露時間均為30 min的5次溫度循環(huán)。試驗后，在一般大氣條件下恢復2h，進行檢測，外觀質量、回線電阻、絕緣電阻和按鍵力的結果應符合要求。

1.高溫：

將薄膜鍵盤放置在恒溫恒濕試驗箱中，試驗箱溫度調節(jié)為55℃±2℃，持續(xù)保溫時間72 h，試驗過程中不通電，不做功能試驗。試驗后在一般大氣條件下恢復2 h，進行檢測，外觀質量、絕緣電阻、耐壓值的結果應符合要求。

2.低溫：

將薄膜鍵盤放置在恒溫恒濕試驗箱中﹐試驗箱溫度為-40℃±3℃，持續(xù)保溫時間72 h，試驗過程中不通電，不做功能試驗。試驗后在一般大氣條件下恢復2 h，進行檢測﹐回線電阻和按鍵力的結果應符合要求。

3.恒定濕熱：

將薄膜鍵盤放置在試驗箱中，試驗條件為溫度：40℃±2℃，相對濕度：93%±3% ，時間持續(xù)4 d ，樣品不包裝，試驗過程中不通電。試驗后在一般大氣條件下恢復2 h，進行檢測，外觀質量、回線電阻、絕緣電阻和耐壓值的結果應符合要求。

以上就是薄膜鍵盤在恒溫恒濕試驗箱中的試驗項目，除此之外，還需要做快速溫度變化試驗，快速溫度變化試驗需要用到快速溫度變化試驗箱（型號：HYQT-80），其測試方法如下：

溫度變化：

將薄膜鍵盤放置在試驗箱中，樣品處于不包裝，不通電的準備使用狀態(tài)進行試驗，經受-40℃~+55℃，轉換時間不大于3 min，高、低溫的暴露時間均為30 min的5次溫度循環(huán)。試驗后，在一般大氣條件下恢復2h，進行檢測，外觀質量、回線電阻、絕緣電阻和按鍵力的結果應符合要求。

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