半導體芯片高低溫測試是金屬、元器件、電子汽車配件、化學材料等材料行業(yè)經(jīng)常能用到的測試，用于測試材料結(jié)構(gòu)或復合材料。在經(jīng)過高溫及較低溫的連續(xù)變化環(huán)境試驗我們可以檢測出半導體芯片忍受極端溫度變化的程度，得以在短時間內(nèi)檢測到試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理損傷。

做半導體芯片高低溫測試時需要用環(huán)境模擬實驗箱，在使用時，試驗箱內(nèi)會有各種ji端的環(huán)境，例如較低溫、高溫高壓、高溫高濕等特殊環(huán)境條件。

如果試驗箱中正在進行-70℃的較低溫測試，這個時候打開試驗箱門，寒冷的氣流會溢出試驗箱，假如我們的手指不做任何防護措施就觸碰到試驗箱壁或樣品上，手指會瞬間凍傷，凍傷部位的肌肉組織甚至會壞死。另外，在較低溫的情況下打開試驗箱門可能會產(chǎn)生蒸發(fā)器結(jié)霜的現(xiàn)象，會影響試驗箱降溫速度，甚至有可能會導致壓縮機損壞等問題。

如果在試驗箱中正在進行高溫150℃的測試時打開試驗箱門，高溫氣體會瞬間沖出試驗箱，打開時沒有做好相關防護的話，很有可能會燙傷我們的面部。更嚴重的情況時，如果，試驗箱旁有燃點低的可燃物，高溫氣體可能會引起起火。

其他環(huán)境試驗設備，比如恒溫恒濕試驗箱在進行高溫高濕試驗時，儀器內(nèi)的壓力和蒸汽會非常大，如果有人在此時打開試驗箱門，會有高溫高濕的蒸汽沖出試驗箱，這很可能會對操作人員造成嚴重的燙傷。

   設備操作不當?shù)暮蠊麑Σ僮魅藛T的身體健康影響較大，所以我們要加強保護意識，學習如何正確操作機器，在半導體芯片高低溫測試運行途中，若沒有特殊情況需要打開試驗箱門，請勿打開試驗箱門。如果須要使用中途打開試驗箱門，那么一定要做好相關的防護措施，在做好保護措施的情況下用正確的方法打開試驗箱門。

        宏展儀器（Lab Companion）現(xiàn)有東莞、昆山、重慶三大研發(fā)制造工廠，專精于環(huán)境模擬技術，產(chǎn)品包括: 高低溫交變濕熱試驗箱、快速溫度循環(huán)試驗箱、溫度沖擊試驗箱、步入式環(huán)境試驗箱、高低溫低氣壓試驗箱、精密烘箱、非標環(huán)境試驗設備定制產(chǎn)品等。

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